HRP220（表麵形貌）
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關鍵詞：
半導體設（shè）備、半導（dǎo）體工藝
所屬分類：
產（chǎn）品描述
The HRP®-220 is a breakthrough for inline surface metrology with an industry-first patented dual-stage stylus profiler, combining the long scan stage of the P-22 with a high-resolution piezo stage and the DuraSharp® stylus to enable fine-feature measurement and analysis.
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